高薄膜测厚仪，厚度测试仪 CHY-C2测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的厚度测量。合GB 6672（塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法）、GB/T 451.3-2002（纸和纸板厚度的测定）、GB/T 6547、ASTM D645、AT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。
薄膜测厚仪技术指标
测量范围：0～2mm（常规）（0～6mm可选）
分辨率：0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5&plun;1kPa（薄膜）；〔50&plun;1kPa（纸张）〕
接触面积：50mm2（薄膜）；〔200mm2（纸张）〕
薄膜测厚仪技术指标
测量范围：0～2mm（常规）（0～6mm可选）
分辨率：0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5&plun;1kPa（薄膜）；〔50&plun;1kPa（纸张）〕
接触面积：50mm2（薄膜）；〔200mm2（纸张）〕
